Curso: Microscopía Electrónica Imprimir
  • Responsable del Curso:
    Dr. Miguel IPOHORSKI
  • Equipo Docente:
    Dra. Patricia Beatriz BOZZANO
    Dr. Raul Antonio VERSACI
  • Régimen de Dictado: Presencial
  • Modalidad: Curso Teórico-Práctico
  • Carácter: Optativo
  • Subdisciplina: Tecnología de los Materiales
  • Carga Horaria Total: 40 hs
  • Contenidos Mínimos: I) Microscopia Electrónica de Transmisión. Imágenes Ópticas. Resolución. Imágenes Electrónicas. Origen del Contraste. Breves Nociones de Óptica Electrónica. Trayectoria de un Haz de Electrones en un Campo Magnético Uniforme. Lentes Magnéticas Delgadas. Aberración Esférica. Astigmatismo. Aberración Cromática y por Difracción. El Microscopio Electrónico de Transmisión. Cañón Electrónico. Filamento. Ánodo Acelerador. Lentes Condensadoras. Lente Objetivo. Lente Intermedia. Lente Proyectora. Difracción por un Área Selecta. Poder de Resolución de un Microscopio Electrónico de Transmisión. Profundidad de Campo y Profundidad de Foco. Aperturas de Objetivo y Difracción. Calibración del Instrumento. Calibración de la Magnificación y de las Rotaciones Relativas. Teoría Cinemática de la Difracción de Electrones. Aproximación Cinemática. Límites. Función de Onda Asociada a un Haz de Electrones. Difusión de Electrones por un Átomo. Factor de Difusión. Difracción por una Red Geométrica Tridimensional. Esfera de Ewald. Cristalografía. Difracción por una Estructura Cristalina. Factor de Estructura. Estructuras FCC, BCC, HCP. Intensidad Difractada fuera de la Orientación de Bragg. Doble Difracción de Bragg. Contraste de Defectos Cristalinos Según la Aproximación Cinemática. Aproximación de la Columna. Aproximación de Dos Haces. Contraste de una Lámina Delgada Cristalina Perfecta. Franjas de Igual Espesor e Igual Inclinación.  Contraste de Defectos Cristalinos. Contraste de Fallas de Apilamiento. Contraste de Dislocaciones.  Imágenes Periódicas. Resolución Directa. Resolución Indirecta. Franjas de Moiré. Efecto de las Imperfecciones Cristalinas sobre las Imágenes Periódicas. Campo Oscuro. Microscopía Electrónica de Alta Resolución y Analítica. El desarrollo del Microscopio Electrónico Holográfico. II) Microscopia Electrónica de Barrido. Columna. Filamento Emisor. Haz Electrónico. Lentes. Sistemas de Barrido. Visualización y Registro de Imágenes. Detectores. Magnificación. Número de Líneas. Poder de Resolución del Microscopio Electrónico de Barrido. Efecto del Diámetro del Haz Incidente. Efectos de la Interacción del Haz con la Muestra. Interpretación de las Imágenes Modo Emisivo y Modo Reflectivo. Energía de los Electrones Secundarios y Reflejados.  Influencia de la Topografía Superficial. Analogía Óptica. Imágenes de Composición y Topografía. Microscópios Modernos: Microscópio Electrónico Ambiental (ESEM), Microscópio Óptico de Barrido de Campo Cercano (NSOM). Principios del Microanálisis Dispersivo en Energía (EDS). Radiación Característica de los Elementos. Energía y Longitud de Onda. El Detector de Si-Li. Analizador Multicanal. Resolución. Líneas K Alfa, K Beta, L.  Interpretación del Espectro. Identificación de los Elementos presentes en una Muestra. Mapas de Rayos X. Distribución de Elementos. Introducción a la Microscopía Electrónica Analítica.
  • Inscripción: Consultar cursos habilitados

 

 

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